NAU Harvester System
Parameters of radioelectronic devices, which are determined by thermal modes
Наукові журнали Національного Авіаційного Університету
View Archive Info| Field | Value | |
| Title |
Parameters of radioelectronic devices, which are determined by thermal modes
Показатели надежности радиоэлектронных аппаратов, определяемые тепловыми режимами Показники надійності радіоелектронних апаратів, що визначаються тепловими режимами |
|
| Creator |
Uvarov, B. M.; National Technical University of Ukraine “KPI”
Nikitchuk, A. V.; National Technical University of Ukraine “KPI” |
|
| Subject |
Reliability; radio electronic devices; failure; microassembly; thermal field; heat; failure rate; reliability particular; automation; reliability calculation
UDC 531/534 надежность; радиоэлектронные средства; отказ; микросборка; тепловое поле; тепло; интенсивность отказов; показатели надежности, автоматизация, расчет надежности UDC 531/534 надійність; радіоелектронні засоби; відмова; мікрозбірка; теплове поле; тепло; показники на- дійності; автоматизація; розрахунок надійності UDC 531/534 |
|
| Description |
In this work discusses the main characteristics of reliability of radio electronic devices, methods of their calculation. Proposed mathematical models for determination of parameters of thermal fields and recieved an analytical solution for the calculation of temperatures in microassemblies that take into account the removal of heat from all surfaces of the plate-basics to the existing volume. The described complex software module for calculation of temperatures of the elements of the electronic structure established on the basis of microassembly, and performance of its reliability
Рассмотрены основные характеристики показателей надежности радиоэлектронных средств, методы их расчета. Предложены математические модели для определения параметров теплового поля и получены аналитические решения для расчетов температур в микросборках, учитывающие отвод теплоты со всех поверхностей пластины-основы к окружающему ее объему. Описан комплексный программный модуль для расчетов температур элементов электронной структуры, установленных на основе микросборки, и показателей ее надежности Розглянуто основні характеристики показників надійності радіоелектронних засобів, методи їх розрахунку. Запропоновано математичні моделі для визначення параметрів теплового поля та одержані аналітичні рішення для розрахунків температур у мікрозбірках, які враховують відвід теплоти з усіх поверхонь пластини-основи до оточуючого її об’єму. Описаний комплексний програмний модуль для розрахунків температур елементів електронної структури, встановлених на основі мікрозбірки, та показників її надійності |
|
| Publisher |
National Aviation University
|
|
| Contributor |
—
— — |
|
| Date |
2014-10-09
|
|
| Type |
—
— — |
|
| Format |
application/pdf
|
|
| Identifier |
http://jrnl.nau.edu.ua/index.php/ESU/article/view/7332
10.18372/1990-5548.39.7332 |
|
| Source |
Electronics and Control Systems; Том 1, № 39 (2014); 46-52
Электроника и системы управления; Том 1, № 39 (2014); 46-52 Електроніка та системи управління; Том 1, № 39 (2014); 46-52 |
|
| Language |
en
|
|