Record Details

Дворівнева інтелектуальна система контролю роботи сонячних панелей

Наукові журнали Національного Авіаційного Університету

View Archive Info
 
 
Field Value
 
Title Дворівнева інтелектуальна система контролю роботи сонячних панелей
Двухуровневая интеллектуальная система контроля работы солнечных панелей
Double layer intellectual control system for quality assurance of solar panels and photovoltaic elements
 
Creator Sineglazov, V. M.; Національний авіаційний університет
Tkachenko, D. V.; Національний авіаційний університет
 
Subject система контролю; комплекс; вольт-амперна характеристика; інтелектуальна система; вимір і аналіз даних в реальному часі; мікроконтролер

система контроля; комплекс; вольт-амперная характеристика; интеллектуальная система; микроконтроллер; измерение и анализ данных в реальном времени; микроконтроллер

Degradation; complex system; intellectual system; real-time measurement and control; microcontroller
UDC 65.011.56:633.1
 
Description Розглянуто рівень деградації та основні характеристики сонячних елементів. Розроблено алгоритм для аналізу характеристик сонячних елементів. Розроблено систему для моніторингу та аналізу характеристик панелей вреальному часі
Рассмотрен уровень деградации и основные характеристики солнечных элементов. Разработан алгоритм дляанализа характеристик солнечных элементов. Разработана система для мониторинга и анализа характеристикпанелей в реальном времени
Studied the degradation rate and characteristics of solar cells. Developed the algorithm forsolar cell characteristic analysis. Developed system for real time tracking and analysis of solar panelvolt-ampere characteristics
 
Publisher National Aviation University
 
Contributor


 
Date 2017-07-05
 
Type


 
Format application/pdf
 
Identifier http://jrnl.nau.edu.ua/index.php/ESU/article/view/11698
10.18372/1990-5548.51.11698
 
Source Electronics and Control Systems; Том 1, № 51 (2017); 84-87
Электроника и системы управления; Том 1, № 51 (2017); 84-87
Електроніка та системи управління; Том 1, № 51 (2017); 84-87
 
Language en
 

Технічна підтримка: НДІІТТ НАУ